Periodo de publicación recogido
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Quantifying molecular stiffness and interaction with lateral force microscopy
Alfred John Weymouth, Thomas Hofmann, Franz J. Giessibl
Science, ISSN 0036-8075, Vol. 343, Nº 6175, 2014, págs. 1120-1122
Atomic resolution of the silicon (111)-(7x7) surface by atomic force microscopy
Franz J. Giessibl
Science, ISSN 0036-8075, Vol. 267, Nº 5194, 1995, págs. 68-71
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