InstitucionesAclaración de materia/profesión
Periodo de publicación recogido
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Diego Chavarro, Jaime Andrés Pérez Taborda, Alba Ávila
Tendencia Editorial UR, ISSN 2382-3135, Nº. Extra 31, 2022 (Ejemplar dedicado a: Especial), págs. 16-19
AlN film deposition as a semiconductor device
Julio César Caicedo Angulo, Jaime Andrés Pérez Taborda, William A. Aperador Chaparro
Ingeniería e Investigación, ISSN-e 2248-8723, ISSN 0120-5609, Vol. 33, Nº. 2, 2013, págs. 16-23
Películas delgadas de nitruro de aluminio (ALN)
Jaime Andrés Pérez Taborda
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 2, Nº. 48, 2011, págs. 218-223
Propiedades estructurales y ópticas de compuestos (AIN, GaN, InN)
Jaime Andrés Pérez Taborda
Tumbaga, ISSN-e 1909-4841, Vol. 1, Nº. 6, 2011, págs. 201-214
Jaime Andrés Pérez Taborda, Henry Riascos Landázuri, Francy Nelly Jiménez García, Julio César Caicedo Angulo
Ciencia e Ingeniería Neogranadina, ISSN-e 0124-8170, Vol. 20, Nº. 2, 2010
Películas nano estructuradas de oxido de zinc(ZnO).
Jaime Andrés Pérez Taborda, Henry Riascos Landázuri, Jorge Luis Gallego Cano, Wilson Steven Román
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 2, Nº. 39, 2008, págs. 416-421
DIAGNOSTICO DE UN PLASMA POR SONDA DE LANGMUIR.
Henry Riascos Landázuri, Jaime Andrés Pérez Taborda, Lina Maria Franco
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 3, Nº. 35, 2007, págs. 439-442
Crecimiento de películas delgadas de nitruro de carbono por deposicion con láser pulsado.
Henry Riascos Landázuri, Jaime Andrés Pérez Taborda, Lina Maria Franco
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 4, Nº. 36, 2007, págs. 125-128
Jaime Andrés Pérez Taborda
Tesis doctoral dirigida por Fernando Briones Fernández-Pola (dir. tes.), Maria Soledad Martin Gonzalez (dir. tes.). Universidad Complutense de Madrid (2017).
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