Periodo de publicación recogido
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Low-Voltage Embedded RAMs in Nanometer Era
T. Kawahara
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 90, Nº 4, 2007, págs. 735-742
Effect of Purge Time on the Properties of HfO~2 Films Prepared by Atomic Layer Deposition
T. Kawahara
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 87, Nº 1, 2004, pág. 2
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