Periodo de publicación recogido
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Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements
E. Nogueira, Juan Sancho Gil, José Luis Sánchez Bote
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 95-100
Evaluation of AlGaInP LEDs reliability based on accelerated tests.
E. Nogueira, M. Vázquez, N. Núñez
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1240-1243
Characterization of Copper Oxide Nanofluids in medical applications: Cases of Hospital Infections
L. Soares, E. Nogueira, L. COELHO, F. Coelho, S. Reis
XXXV Congreso anual de la Sociedad Española de Ingeniería Biomédica: Libro de actas / coord. por Raimon Camps Salat, 2017, ISBN 978-84-9082-797-0, págs. 459-461
Accelerated life tests of lead free solder alloys in presence of distilled water
E. Nogueira, A. Fernandez, A. Florez, R. Alvarez Santos, E. Mino
Proceedings of the 2013 Spanish Conference on Electron Devices / Héctor García (aut.), Helena Castán Lanaspa (aut.), 2013, ISBN 9781467346665
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