Nuevo enfoque para el análisis de la calidad posicional en cartografía mediante estudios basados en la geometría lineal

• Autores: Alan Davis James Atkinson Gordo, Francisco Javier Ariza López
• Localización: XIV Congreso Internacional de Ingeniería gráfica: Santander, 2002, actas de congreso 5,6 y 7 de junio, 2002, págs. 366-375
• Idioma: español
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