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Distance Measures between Attributed Graphs and Second-Order Random Graphs
Autores:
Francesc Serratosa Casanelles
,
Alberto Sanfeliu
Localización:
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
:
Joint IAPR International Workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
/
coord.
por
Ana Fred
,
Terry M. Caelli
,
Robert P. W. Duin
,
Aurélio C. Campilho
,
Dick de Ridder
, 2004,
ISBN
978-3-540-27868-9,
págs.
1135-1144
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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