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Fabricación de redes de difracción en vidrios con un láser Nd: YVO4

    1. [1] Departamento de Física Aplicada, Área de Óptica, Facultade de Física, Universidade de Santiago deCompostela, 15782, Santiago de Compostela, España.
    2. [2] Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón, Universidad de Zaragoza-CSIC, Mª de Luna, 3 50018,Zaragoza, España
  • Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 43, Nº. 2 (JUN), 2010 (Ejemplar dedicado a: IX Reunión Nacional de óptica II), págs. 95-99
  • Idioma: español
  • Títulos paralelos:
    • Diffractive gratings fabrication on glass with a laser Nd: YVO4
  • Enlaces
  • Resumen
    • español

      Se presenta un método alternativo para la fabricación de redes de difracción de fase, rápido y de una sola etapa, que consiste en la modificación de las características de un substrato de vidrio mediante la ablación de muestras metálicas. La configuración experimental es sencilla y la repetibilidad del proceso alta, siendo posible obtener elementos de diferentes características reajustando los parámetros láser. Con este procedimiento, se graban redes de difracción sobre un substrato de vidrio sodo-cálcico haciendo ablación de un blanco de latón mate con un láser Nd: YVO4. La caracterización física de las redes se hace por microscopía confocal. Se estudia la eficiencia difraccional del primer orden para una longitud de onda de 632, 8 nm.

    • English

      An alternative, rapid and one-step method for the fabrication of phase diffractive gratings consisting of the sequential ablation of metallic samples to change the features of a glass substrate is proposed. The experimental set-up is simple and the process presents a high repeatability, making it possible to obtain elements with different features by readjusting the laser parameters.

      According to this method diffraction gratings are written on a sodo-calcic glass substrate making ablation on a brass target with a Nd:YVO4 laser. The gratings are characterized in terms of their physical properties by confocal microscopy. The first-order diffraction efficiency at normal incidence under 632.8 nm wavelength is measured.


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