Localización automática de outliers y estimación de parámetros

• Autores: Ignacio Martínez López
• Localización: XXV Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa: Vigo, 4-7 de abril de 2000, 2000, ISBN 84-8158-152-6, págs. 139-140
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se ha desarrollado un algoritmo con el propósito de localizar datos extraños de una muestra con distribución perteneciente a una clase paramétrica dada, logrando determinar la posición de los datos extraños y especificando simultáneamente los parámetros numéricos óptimos.