Sensitivity analysis of optimal designs for accelerated life testing

• Eric M. Monroe ^[3] ; Rong Pan ^[1] ; Christina M. Anderson-Cook ^[2] ; Douglas C. Montgomery ^[1] ; Connie M. Borror ^[1]
  1. [1] Arizona State University

     Arizona State University

     Estados Unidos

     
  2. [2] Los Alamos National Laboratory

     Los Alamos National Laboratory

     Estados Unidos

     
  3. [3] Intel Corporation

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• Localización: Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 55, Nº. 5-6, 2010, págs. 513-514
• Idioma: inglés
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