Design and application of exponential chart for monitoring time-between-events data under random process shift.

• Autores: H.Y. Zhang, M. Shamsuzzaman, M. Xie, T.N. Goh
• Localización: International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 57, Nº. 9-12, 2011, págs. 849-858
• Idioma: inglés
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