Structural Defects in Sr~0~.~7Bi~2~.~3Ta~2O~9 Thin Film for Ferroelectric Memory

• Autores: I. Koiwa, T. Osaka, S. Ono, A. Sakakibara
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 81, Nº 4, 1998, pág. 545
• Idioma: inglés
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