An Analysis of Leakage Factors for Dual-Rail Pre-Charge Logic Style

• Autores: Daisuke Suzuki, Minoru Saeki
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 91, Nº 1, 2008, págs. 184-192
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)