Simulación didáctica por ordenador del plan simple de futuro de la inspección mediante las normas militares estándar

• Autores: María Teresa Cabero Morán, Martín García Martín, Santiago Mecoleta Finó, María Mercedes Prieto García
• Localización: XXXI Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa ; V Jornadas de Estadística Pública: Murcia, 10-13 de febrero de 2009 : Libro de Actas, 2009, ISBN 978-84-691-8159-1
• Idioma: español
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• Resumen

  • Para la inspeccion mediante planes de muestreo por atributos se utilizan las normas militares estandar, preparadas para series continuas de lotes del mismo producto. Estan basadas en un tama~no de lote, un nivel de calidad aceptable (AQL), un nivel de inspeccion general (I, II o III) y un rigor de inspeccion (normal, rigurosa o reducida) que se va ajustando en funcion de la calidad de los lotes que se examinan con el historial del vendedor, lo que vara el tama~no de muestra. Una serie de criterios cambian a lo largo del proceso el modo de inspeccion. Este trabajo presenta una hoja de calculo, SIMIL, que proporciona, dados los datos anteriores, los planes de muestreo simple segun el nivel y rigor a seguir. Posteriormente simula un proceso mediante los planes hallados, en el cual, didacticamente mediante diferentes colores e iconos, segun las condiciones, elige muestras, contabiliza las unidades defectuosas y, de acuerdo con la informacion obtenida, planea el futuro de la inspeccion.