Impact and damage on deep sub-micron CMOS technology induced by substrate current due to ESD stress.

• Autores: PH. Galy, S. Dudit, M. Vallet, C. Richier, C. Entringer, F. Jezequel, E. Petit, J. Beltritti
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1107-1110
• Idioma: inglés
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