Control de Calidad en la industria Microelectrónica: Estructuras de Test Eléctrico

• Autores: M. Lozano, C. Cané
• Localización: Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 395-404
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)