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Efficient method to obtain the entire active area against circuit delay time trade-off curve in gate sizing
Autores:
Juan Antonio Montiel Nelson
Localización:
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems
,
ISSN
1350-2409,
Vol. 152, Nº 2, 2005
,
págs.
133-145
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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