Diagnósticos bayesianos aplicados al modelo jerárquico normal

• Autores: María Jesús Bayarri García, M. E. Castellanos
• Localización: 27 Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa [Archivo de ordenador]: Lleida, del 8 al 11 de abril de 2003. Actas, 2003, ISBN 84-8409-955-5, págs. 4055-4060
• Idioma: español
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