Periodo de publicación recogido
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Experimental study of bias dependence of pulsed laser-induced single-event transient in SiGe HBT
Yabin Sun, Jun Fu, Yudong Wang, Wei Zhou, Zhihong Liu, Xiaojin Li, Yanling Shi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 41-46
A thermodynamic constitutive model for stress induced phase transformation in shape memory alloys
Zhihong Liu, Weimin Huang, Naigang Liang, Jiujiang Zhu, K.M. Liew
International journal of solids and structures, ISSN 0020-7683, Vol. 39, Nº 3, 2002, págs. 741-763
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