Periodo de publicación recogido
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A hybrid defect detection for in-tray semiconductor chip
Chin-Sheng Chen, Chien-Liang Huang, Chun-Wei Yeh
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 65, Nº. 1-4, 2013, págs. 43-56
An adaptive slicing algorithm and data format for functionally graded material objects
Su Wang, Yan Wang, Chin-Sheng Chen, Xinxiong Zhu
International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 65, Nº. 1-4, 2013, págs. 251-258
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