Periodo de publicación recogido
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Characterization of Atom Diffusion in Polycrystalline Si/SiGe/Si Stacked Gate
D. Azuma, S. Higashi, H. Murakami, Y. Moriwaki, M. Fujitake
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 4, 2005, pág. 646
Charging and Discharging Characteristics of Stacked Floating Gates of Silicon Quantum Dots
T. Shibaguchi, M. Ikeda, H. Murakami
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 88, Nº 4, 2005, pág. 709
Investigation of Optical Magnetic Flux Generation in Superconductive YBCO Strip-Line
T. Fukui, H. Murakami, M. Tonouchi
IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 85, Nº 3, 2002, págs. 818-822
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