Periodo de publicación recogido
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C. Abbate, G. Busatto, A. Sanseverino, D. Tedesco, F. Velardi
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 314-320
Instable mechanisms during unclamped operation of high power IGBT modules.
G. Busatto, C. Abbate, F. Iannuzzo, P. Cristofaro
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1363-1369
IGBT modules robustness during turn-off commutation.
G. Busatto, C. Abbate, B. Abbate, F. Iannuzzo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1435-1439
The robustness of series-connected high power IGBT modules.
C. Abbate, G. Busatto, L. Fratelli, F. Iannuzzo, B. Cascone, R. Manzo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1746-1750
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