Periodo de publicación recogido
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Source engineering on ruggedness and RF performance of n-channel RFLDMOS
Hao Li, Mifang Cong, Ke Li, Huan Du
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 57-63
Using GA-SVM for defect inspection of flip chips based on vibration signals
Ke Li, Lingyun Wang, JingJing Wu, Qiuju Zhang, Guanglan Liao, Lei Su
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 159-166
UV Photolysis of Trichloroethylene: Product Study and kinetic Modeling
Ke Li, John C. Crittenden, Mihaela I. Stefan
Environmental science & technology, ISSN 0013-936X, Nº. 24, 2004, págs. 6685-6693
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