Monitorizacion automatica en tiempo real de equipos de prueba de semiconductores

• Autores: Manuel José Moreno Lizaranzu, Federico Cuesta Rojo
• Localización: Actas de las XXXIII Jornadas de Automática: Vigo, 5 al 7 de Septiembre de 2012 / coord. por Matías García Rivera, Rafael Sanz Domínguez, 2012, ISBN 978-84-8158-583-4
• Idioma: español
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