Performance reliability of ultra-thin Si-SiO2, Si-Al2O3, Si-ZrO2 and Si-HfO2 interface in rectangular steep retrograded nano-regimes devices

• Autores: Rajiv Ranjan Thakur, Pragati Singh
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 96, 2019, págs. 21-28
• Idioma: inglés
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