Resumen de TESEO: algoritmo eficiente para la generación algebraica de patrones de test
Pablo Pérez Trabado, Julio Ortega Lopera, Antonio Lloris Ruiz
En esta comunicación se representa un algoritmo de generación de patrones de test para faltas de anclaje ("stuck-at") en circuitos combinacionales, obtenidos por solución de ecuaciones booleanas. Se incluyen reglas detalladas para la construcción de las ecuaciones, y para el uso de los puntos de fan-out en la simplificación del procedimiento.
