Alejandra Nieto Villena, José Refugio Martínez Mendoza, José Ángel de la Cruz Mendoza, Juan Valcárcel Andrés, Gerardo Ortega Zarzosa, Azdrúbal Lobo Guerrero, José Manuel Flores Camacho
En el presente trabajo se evalúa la factibilidad de la microscopía de fuerza atómica (AFM) como herramienta para la identificación de procesos fotográficos históricos a partir del estudio de sus superficies. El análisis de estos bienes culturales requiere de mayor profundización en la aplicación de técnicas científicas no invasivas que complementen los métodos de identificación actuales.
A través de AFM se han podido distinguir dos tipologías de superficie asociadas a procesos fotográficos, una de ellas a la albúmina y colodión y otra a la gelatina, aglutinantes presentes en estos artefactos desde finales del siglo xix. Mediante espectroscopía infrarroja (FTIR) se ha logrado corroborar la existencia de estos compuestos y otros estratos subyacentes como la capa de barita.
Los resultados obtenidos proporcionan una valiosa información que contribuye a optimizar la metodología de identificación de superficies fotográficas dando pie a una mejor comprensión de su estructura con base científica.
The aim of this study is to evaluate the atomic force microscopy (AFM) as a tool for identifying historical photographic processes through the study of their surfaces. The analysis of these cultural heritage requires greater depth in the application of non-invasive scientific techniques as a complement of current methods of identification.
Through AFM have been able to distinguish two types of surface photographic processes associated with albumen, collodion and gelatin, binders present in these devices since the late s. xix. Through infrared spectroscopy (FTIR) it has been achieved corroborate the existence of these binders and other underlying layer as baryta layer.
The results provide valuable information that helps to optimize the methodology for identifying photographic surfaces giving rise to a better understanding of its structure with scientific basis.
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