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Automatic Early Defects Detection in Use Case Documents
Autores:
Shuang Liu
,
Jun Sun
,
Yang Liu
,
Yue Zhang
,
Bimlesh Wadhwa
,
Jin Song Dong
,
Xinyu Wang
Localización:
ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering
/
coord.
por
Ivica Crnkovic
, 2014,
ISBN
978-1-4503-3013-,
págs.
785-790
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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