Determination of thin-film parameters from high accuracy measurements of spectral regular transmittance

• Autores: S. Nevas, F. Manoocheri, Erkki Ikonen
• Localización: Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 40, Nº 1, 2003 (Ejemplar dedicado a: 8th International Conference on New Developments in Optical Radiometry, Newrad 2002 NIST, Gaithersburg, MD, USA), págs. 200-203
• Idioma: inglés
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