Correlation between infrared transmission spectra and the interface trap density of SiO2 films.

• Autores: V.Em. Vamvakas, M. Theodoropoulou, S.N. Georga, C.A. Krontiras, M.N. Pisanias
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 834-837
• Idioma: inglés
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