LOCOS induced stress effects on SOI bipolar devices.

• Autores: S. Privitera, R. Modica, V. Cerantonio, G. Fallica, G. Pappalardo
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 802-805
• Idioma: inglés
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