Sistema para medición de reflectometría de radiación vis en interfases dieléctricas.

• Autores: J. A. Cubillos M., L. C. Jiménez B., C. Otálora S., C. A. Parra R., J. G. Moncayo R.
• Localización: Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 38, Nº. 2, 2006, págs. 782-785
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se diseño y construyó un banco dedicado a la reflectometría de radiación VIS en interfases dieléctricas, basado en un porta muestra, 2 polarizadores Glan Taylor, diodos láser y fotodiodos que rotan con motores de paso. Tanto la medición de potencia, frecuencia, polarización de la radiación, como de las rotaciones, se supervisa con RS232, tarjetas NI en entorno LabVIEW. Se construyeron tarjetas de control de los motores con protocolo modbus ASCII para comunicación serial con el PC. El sistema permite extinción de 10 -5 y rotaciones de 0.17 mrad. Se calcula el índice de refracción a partir del patrón de reflexión para un estado de polarización determinado.