Ayuda
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
¿En qué podemos ayudarle?
×
Buscar en la ayuda
Buscar
Ir al conteni
d
o
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
Cambiar idioma
Idioma
català
Deutsch
English
español
euskara
français
galego
italiano
português
română
Cambiar
Técnicas fotogramétricas y de escáner láser terrestre aplicadas a la documentación y valoración del patrimonio histórico
Autores:
F. Javier Cardenal Escarcena
,
Emilio Mata de Castro
,
José Luis Pérez García
,
Antonio T. Mozas Calveche
,
Tomás Fernández del Castillo
,
Jorge Delgado García
,
Manuel Antonio Ureña Cámara
,
Juan Carlos Castillo Armenteros
Localización:
Catastro: formación, investigación y empresa
:
Selección de ponencias del I Congreso Internacional sobre catastro unificado y multipropósito
/
Manuel G. Alcázar Molina
(
ed. lit.
),
Francisco Javier Ariza López
(
ed. lit.
),
José Luis García Balboa
(
ed. lit.
),
Emilio Mata de Castro
(
ed. lit.
),
Salvador Ruiz Capiscol
(
ed. lit.
),
Manuel Antonio Ureña Cámara
(
ed. lit.
), 2010,
ISBN
978-84-8439-519-5,
págs.
459-470
Idioma:
español
Texto completo no disponible
(Saber más ...)
Dialnet Métricas
:
1
Cita
Acceso de usuarios registrados
Identificarse
¿Olvidó su contraseña?
¿Es nuevo?
Regístrese
Ventajas de registrarse
Dialnet Plus
Opciones de compartir
Facebook
Twitter
Opciones de entorno
Sugerencia / Errata
©
2001-2024
Fundación Dialnet
· Todos los derechos reservados
Dialnet Plus
Accesibilidad
Aviso Legal
Coordinado por:
I
nicio
B
uscar
R
evistas
T
esis
Co
n
gresos
m
étricas
Ayuda
R
e
gistrarse