A New Approach to 3-D Profilometry for the White Light Interferometric (WLI)

• Autores: S. M. Ryoo
• Localización: IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer, ISSN 0916-8508, Vol. 84, Nº 1, 2001, págs. 378-382
• Idioma: inglés
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