Aplicación del método Rietveld al análisis cuantitativo SiC sinterizado en fase líquida

• Autores: Ángel Luis Ortiz Seco
• Localización: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, ISSN 0366-3175, Vol. 39, Nº 3, 2000, págs. 347-350
• Idioma: español
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• Resumen

  • La determinación de las fracciones en peso de las fases mediante difracción de rayos X es enormemente complicada en cerámicos a base de SiC debido al intenso solapamiento entre las reflexiones Bragg de los diferentes politipos. No obstante, el método de Rietveld constituye una herramienta poderosa para resolver este problema. En este trabajo se utiliza el método de Rietveld al objeto de determinar las fracciones en peso de las diferentes fases para una muestra de SiC sinterizado en fase líquida (LPS SiC). Nuestros resultados ponen también de manifiesto la necesidad de incorporar correcciones debidas a orientación preferencial para efectuar un análisis cuantitativo preciso.