Revisiting power cycling test for better life-time prediction in traction.

• Autores: M. Mermet-Guyennet, X. Perpiñá, M. Piton
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1690-1695
• Idioma: inglés
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