MNOS Nonvolatile Semiconductor Memory Technology: Present and Future
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Estimation of Imprint Failure Lifetime in FeRAM with Pt/SrBi~2Ta~2O~9/Pt Capacitor
C. H. Chung, H. W. Kye, S. K. Hong, N. S. Kang, Y. M. Kang, S. S. Lee, B. Yang
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